第26回インターフェックスジャパン出展

2013年7月10日(水)～7月12日(金)に第26回インターフェックスジャパンが開催され、弊社はソフトカプセル自動外観検査装置、光断層画像化法（OCT）を用いた計測技術を出展致しました。

ご多忙のところ弊社ブースにお立ち寄り下さいました皆様、本当にありがとうございました。
興味をお持ち頂いたにもかかわらず残念ながら当日お越し頂けなかった皆様、
ご一報いただけましたらご不明な点を詳しく説明致しますのでいつでも
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